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@ |
データベースによる一元管理が可能 |
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A |
装置制御、データ入力から変態点解析及び最終報告書までの処理を自動化 |
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B |
高温赤外線方式の採用で金属はもとより耐火レンガ等の非金属も測定可能 |
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C |
サブゼロ(深冷)処理により常温以下(-180℃まで)での測定が可能 |
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D |
制御冷却方式により高低温領域での冷却速度を一定に保つフィードバック制御が可能 |
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E |
コンピュータでの自動制御によりサンプルセット後、真空処理から試験完了まで無人運転が可能 |
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F |
装置全体のヒートパターン設定が可能 |
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G |
CCT図(連続冷却変態曲線)やTTT図(恒温変態曲線)の自動作図が可能
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各種試験後の試験片を測定したデータを取り込み目的の値を求めるシステム |

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@ |
データベースによる一元管理が可能 |
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A |
スポット溶接破断後のナゲット径及び、平均値が測定及び算出可能 |
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B |
孔拡げ試験後の孔径及び、平均値が測定及び算出可能 |
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C |
腐食させた試験片の板厚及び最大浸食深さが測定及び算出可能
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@ |
データベースによる一元管理が可能 |
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A |
スキャン装置の制御からデータの取り込み、成績表の出力までが可能
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HIC試験片の割れを測定後、データを入力、集計するシステム |

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@ |
データベースによる一元管理が可能 |
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A |
各断面でCLR、CTR、CSRが自動計算及び集計され、各種帳票を出力するシステム
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直流及び交流(商用50/60Hz周波数、任意周波数)を用いて、電気的磁気特性を調べるシステム |

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@ |
データベースによる一元管理が可能 |
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A |
装置の制御から、データ入力、グラフ及び帳票の出力までが可能 |
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B |
磁化力や磁束密度、透磁率、残留磁束密度、保持力、鉄損といった項目の測定が可能 |
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C |
ヒステリシスカーブやB−H曲線、各種磁化曲線(任意で選択)が出力可能 |
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D |
エプスタイン、リング試験片で測定可能 |
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E |
試験情報を管理No.単位で保存及びメンテナンスが可能 |
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F |
CSV形式でのデータ変換も可能 |
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@ |
データベースによる一元管理が可能 |
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A |
取り込んだデータから3次元グラフが出力可能
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